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2025-08
星期 五
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硅光衰减器技术虽在集成度、成本和性能上具有***优势，但其发展仍面临多重挑战，涉及材料、工艺、集成设计及市场应用等多个维度。以下是当前面临的主要挑战及技术瓶颈：一、材料与工艺瓶颈硅基
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2025-08
星期 五
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重构设备研发与生产成本测试流程集成化现代VNA融合频谱分析（SA）、相位噪声测试（PNA）功能，单台设备替代传统多仪器组合，研发测试成本降低40%[[网页82]]。例：RIGOLRS
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2025-08
星期 五
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天线校准幅相一致性、辐射效率波束指向误差＜±1°混响室替代物校准[[网页82]]前传链路验证眼图、抖动、BER时延＜100μs，BER＜10⁻¹²EXFOFTB5GPro[[网页88
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星期 五
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测量结果呈现显示与分析：处理后的数据在显示屏上以图形或数值的形式呈现，常见的显示方式包括幅度-频率图、相位-频率图、史密斯圆图等。用户可以根据这些显示结果分析网络的性能，如带宽、插入损耗、反射损耗、驻波比、群延迟等参数。数据存储与
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2025-08
星期 五
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材料特性研究：在研究光学材料的特性，如透过率、反射率、吸收率等时，光功率探头可以精确测量光信号的功率变化，为材料的评估和改进提供数据支持。光热效应研究：在光热转换相关的研究中，通过测
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